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Micro-Epsilon Messtechnik

Micro-Epsilon Messtechnik GmbH & Co KG

Micro-Epsilon Messtechnik GmbH & Co KG

Fabbricante | Germania: Da 40 l’azienda Micro-Epsilon risolve i compiti più difficili per la misurazione di percorsi, distanze, posizioni e temperature. Offre la gamma più vasta di sensori, sistemi e impianti di collaudo a livello europeo ed...

Il sistema di misurazione confocale optoNCDT 2401

Il sistema di misurazione confocale optoNCDT ...

Micro-Epsilon: Il sistema di misurazione confocale optoNCDT 2401 è formato da un controller e da un sensore che sono collegati tramite un cavo a fibre ottiche di lunghezza pressoché a scelta. Contrariamente ai sistemi con specchio rotante, il...

2008-06-04
Misurazione precisa senza contatto di temperature -40°C … 1.800°C

Misurazione precisa senza contatto di ...

Micro-Epsilon: Misurazione precisa senza contatto di temperature -40°C … 1.800°C. Fanno parte della serie thermoMETER i prodotti come ad esempio il thermoMETER CT con elettronica esterna, che copre una gamma di temperature compresa fra -40°C...

2008-06-04
optoCONTROL 1200

optoCONTROL 1200

Micro-Epsilon: L’optoCONTROL 1200 si basa sul principio della misurazione della quantità luminosa. Nel corpo del dispositivo compatto sono incorporati tutti i componenti elettronici di analisi e l’operazione di montaggio è molto flessibile....

2008-06-04
Scanner di linea laser

Scanner di linea laser

Micro-Epsilon: Gli scanner di linea laser scanCONTROL 2800 e 2810 utilizzano il principio di triangolazione per il rilevamento bidimensionale di profili sulle superfici più diverse di oggetti. Contrariamente ai noti sensori laser a punti, sulla...

2008-06-04
Sensori capacitivi - misura di distanze, lunghezze, dimensioni

Sensori capacitivi - misura di distanze, ...

Micro-Epsilon: I sensori della serie capaNCDT misurano distanze, lunghezze, dimensioni o posizioni contro tutti gli oggetti conduttivi (ad es. metalli). È possibile eseguire anche misurazioni contro materiali isolanti con l’ausilio di una...

2008-06-17
Sensori cromatici per l’ingegneria meccanica

Sensori cromatici per l’ingegneria meccanica

MICRO-EPSILON Eltrotec GmbH lancia un nuovo sensore cromatico True Color che va ad aggiungersi al catalogo colorCONTROL come serie T. Esiste la serie T con ottica a fuoco fisso e nella versione a fibra ottica. La...

2010-12-30
Sensori di percorso misurano movimenti lineari

Sensori di percorso misurano movimenti lineari

Micro-Epsilon: I sensori di percorso misurano movimenti lineari tramite una fune di acciaio altamente flessibile. Il rullo avvolgitore è collegato con un elemento sensibile che genera un segnale di uscita proporzionale. La misurazione viene...

2008-06-04
Sensori di percorso senza contatto con corrente parassita

Sensori di percorso senza contatto con corrente

Micro-Epsilon: I sensori di percorso senza contatto con corrente parassita misurano la distanza, lo spostamento o la posizione contro un oggetto di misurazione conduttivo. L’oggetto può avere caratteristiche ferromagnetiche ed anche...

2008-06-04
Sensori di percorso senza contatto della serie optoNCDT

Sensori di percorso senza contatto della ...

Micro-Epsilon: I sensori di percorso senza contatto della serie optoNCDT funzionano secondo il principio di triangolazione. Sono adatti modelli diversi a seconda delle esigenze specifiche, ossia dal modello Low-Cost al sensore di precisione...

2008-05-29
Sensori elettromagnetici della serie induSENSOR

Sensori elettromagnetici della serie induSENSOR

Micro-Epsilon: I sensori elettromagnetici della serie induSENSOR si basano sul principio di misurazione induttivo, ossia sul principio LVDT e le modifiche brevettate di questo processo di misurazione. Vengono impiegati nelle applicazioni singole...

2008-06-04
Termometro a raggi infrarossi universale e intelligente

Termometro a raggi infrarossi universale ...

Micro-Epsilon: Termometro a raggi infrarossi universale e intelligente. La serie thermoMETER MS abbina la tecnologia più moderna a un prezzo conveniente. L’ampia gamma di temperature -32 … 760 °C, il laser di mira e la risoluzione ottica di...

2008-06-04

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